Detection of In segregation in InGaN by using Eu as a probe
Detection of In segregation in InGaN by using Eu as a probe
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使用 Eu 作为探针检测 InGaN 中的 In 偏析
DOI：
10.1016/j.jcrysgro.2016.12.101
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发表时间：
2017
影响因子：
1.8
通讯作者：
and Y. Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Takatsu;B. Mitchell;A. Koizumi;S. Yamanaka;M. Matsuda;T. Gregorkiewicz;T. Kojima;and Y. Fujiwara
