書き込みエラー率分布を考慮した不揮発メインメモリシステムによるビット化け発生数の評価
書き込みエラー率分布を考慮した不揮発メインメモリシステムによるビット化け発生数の評価
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考虑写入错误率分布的非易失性主存储器系统中位乱码发生次数的评估
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
今村裕志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
荒井礼子;斉藤大貴;佐藤幸紀;広渕崇宏;今村裕志
