Use of backscattered electron imaging to quantify the distribution of inhaled crystalline silica.

Use of backscattered electron imaging to quantify the distribution of inhaled crystalline silica.
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使用背散射电子成像来量化吸入的结晶二氧化硅的分布。

DOI:
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发表时间:
1980
期刊:
Scanning electron microscopy
影响因子:
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通讯作者:
Davis,GS
Davis,GS
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Brody,AR;Roe,MW;Evans,JN;Davis,GS

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