Method for measurement of lattice parameter of cubic GaN layers on GaAs (001)
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DOI：
10.1016/s0022-0248(02)02465-x
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发表时间：
2003-04
影响因子：
1.8
通讯作者：
Xu Zheng;Y. Wang;Z. Feng;H. Yang;H. Chen;J. Zhou;J. W. Liang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Xu Zheng;Y. Wang;Z. Feng;H. Yang;H. Chen;J. Zhou;J. W. Liang
