ON THE THEORY OF CARRIER NUMBER FLUCTUATIONS IN MOS DEVICES
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DOI：
10.1016/0038-1101(89)90113-5
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发表时间：
1989-07-01
影响因子：
1.7
通讯作者：
GHIBAUDO, G
中科院分区：
文献类型：
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作者：
GHIBAUDO, G
