SiO2/SiC 界面欠陥由来による局所DLTS 像の直流バイアス依存性観測
SiO2/SiC 界面欠陥由来による局所DLTS 像の直流バイアス依存性観測
复制标题
观察 SiO2/SiC 界面缺陷引起的局部 DLTS 图像的 DC 偏压依赖性
DOI：
--
复制
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
茅根慎通，小杉亮治，田中保宣，原田信介，奥村元，長康雄
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Koichi Hamaguchi;Seng Pei Liew;Martin Stoll.;茅根慎通，小杉亮治，田中保宣，原田信介，奥村元，長康雄
