Topological Validation of Morphology Modeling by Reverse Monte Carlo Analysis of Two-dimensional Scattering Patterns
Topological Validation of Morphology Modeling by Reverse Monte Carlo Analysis of Two-dimensional Scattering Patterns
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通过二维散射图案的逆蒙特卡罗分析对形态建模进行拓扑验证
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Katsumi Hagita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
上田肇一;寺本敬;西浦廉政;Katsumi Hagita
