FPGAにおけるオンチップ可変テストクロック生成器の検討
FPGAにおけるオンチップ可変テストクロック生成器の検討
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FPGA片上可变测试时钟发生器的研究
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Poki Chen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
古川大悟;三宅庸資;梶原誠司;Poki Chen
