収差補正TEM像における高さ分解能と三次元ナノ構造情報の検出
収差補正TEM像における高さ分解能と三次元ナノ構造情報の検出
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像差校正 TEM 图像中的高度分辨率和三维纳米结构信息检测
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
山崎 順
中科院分区：
文献类型：
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作者：
大本優;竹田翔一;森吉千佳子;黒岩芳弘;大沢仁志;杉本邦久;北中佑樹;野口祐二;宮山勝;山崎 順
