Test Circuit for Locating Open Leads of QFP Ics
Test Circuit for Locating Open Leads of QFP Ics
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用于定位 QFP 集成电路开路引线的测试电路
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroyuki Yotsuyanagi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masaki Hashizume;Akihito Shimoura;Masahiro Ichimiya;Hiroyuki Yotsuyanagi
