Quantification of irradiation-induced defects in UO2 using Raman and positron annihilation spectroscopies

Quantification of irradiation-induced defects in UO2 using Raman and positron annihilation spectroscopies
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使用拉曼和正电子湮灭光谱对 UO2 中辐照引起的缺陷进行定量

DOI:
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发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
9.4
通讯作者:
P. Simon
P. Simon
中科院分区:
材料科学1区
文献类型:
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作者:
R. Mohun;L. Desgranges;C. Jegou;B. Boizot;O. Cavani;A. Canizarès;F. Duval;C. He;P. Desgardin;M. Barthe;P. Simon

文献摘要

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