High precision 14C measurement with the HVEE Tandtron AMS system at Nagoya University
High precision 14C measurement with the HVEE Tandtron AMS system at Nagoya University
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使用名古屋大学的 HVEE Tandtron AMS 系统进行高精度 14C 测量
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Etsuko Niu 他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Toshio Nakamura;Etsuko Niu 他
