等离子放电烧结制备10ScSZ 细晶块体及其烧结温度探究
等离子放电烧结制备10ScSZ 细晶块体及其烧结温度探究
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DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
潘伟
中科院分区：
文献类型：
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作者：
赵晓慧;姚蕾;李天君;张梦霏;潘伟
采用燃烧法制备10ScSZ粉体,通过等离子放电烧结(SPS)制备10ScSZ细晶致密陶瓷块体。根据SPS上下电极间距随烧结温度的变化绘制烧结曲线,在1200 ℃附近电极间距最小,判断陶瓷致密化温度在1200 ℃左右。为验证该方法的可靠性,选取1050,1100,1150,1200,1250 ℃作为烧结温度分别制备样品。结果表明,在1150 ℃烧结的10ScSZ样品具有最高的致密度,达到99.4%,且具有平均晶粒尺寸为194 nm的细晶结构,与推测结果基本相符。该实验结果证实了在SPS烧结中通过烧结曲线判断合适的烧结温度是一种高效可行的方法。