CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品結合不良検出法
CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品結合不良検出法
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使用CMOS门电路作为断线传感器的元件接合不良检测方法
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小野 安季良
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Akira Osada;Daigo Ozawa;Haruhiko Kaiya;and Kenji Kaijiri;M.Machida;M. Machida;小野 安季良
