Direct visualization of isolated and clustered DNA damage using atomic force microscope (AFM) in TK6 cells exposed to ionizing radiation
Direct visualization of isolated and clustered DNA damage using atomic force microscope (AFM) in TK6 cells exposed to ionizing radiation
复制标题
使用原子力显微镜 (AFM) 直接观察暴露于电离辐射的 TK6 细胞中孤立和聚集的 DNA 损伤
DOI：
--
复制
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Shikazono Naoya
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Nakano Toshiaki; Akamatsu Ken; Shikazono Naoya
