Crystal orientation changes of Ag thin films on the Si(III) substrate due to tribo-assisted recrystallization
Crystal orientation changes of Ag thin films on the Si(III) substrate due to tribo-assisted recrystallization
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Si(III) 衬底上 Ag 薄膜因摩擦辅助再结晶而发生晶体取向变化
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
F.Honda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Akimoto;K.Fukagawa;M.Goto;F.Honda
