Measurement of BaTiO_3 domain structure using ultrahigh vacuum-atomic force microscopy (UHV-AFM)
Measurement of BaTiO_3 domain structure using ultrahigh vacuum-atomic force microscopy (UHV-AFM)
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使用超高真空原子力显微镜 (UHV-AFM) 测量 BaTiO_3 域结构
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Watanabe
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Kaku;S. Miyauchi;Y. Watanabe
