K.Kuroda: "Characterization of Hetero-interfaces in Thin-Film Transistor by Cross-Sectional Transmission Electron Microscope" Mat.Res.Soc.Symp.Proc.466. 67-72 (1997)
K.Kuroda: "Characterization of Hetero-interfaces in Thin-Film Transistor by Cross-Sectional Transmission Electron Microscope" Mat.Res.Soc.Symp.Proc.466. 67-72 (1997)
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K.Kuroda：“通过截面透射电子显微镜表征薄膜晶体管中的异质界面”Mat.Res.Soc.Symp.Proc.466。
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