K. Minoshima, S. Inoue, T. Terada and K. Komai: ""Influence of Specimen Size and Sub-Micron Notch on the Fracture Behavior of Single Crystal Silicon Microelements and Nanoscopic AFM Damage Evaluation""Materials Science of Microelectro-mechanical Systems (
K. Minoshima, S. Inoue, T. Terada and K. Komai: ""Influence of Specimen Size and Sub-Micron Notch on the Fracture Behavior of Single Crystal Silicon Microelements and Nanoscopic AFM Damage Evaluation""Materials Science of Microelectro-mechanical Systems (
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K. Minoshima、S. Inoue、T. Terada 和 K. Komai：《试样尺寸和亚微米缺口对单晶硅微元件断裂行为的影响及纳米级 AFM 损伤评估》《微机电系统材料科学》
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