集束イオンビーム/走査電子顕微鏡複合機を用いた摘出内境界膜表面の観察
集束イオンビーム/走査電子顕微鏡複合機を用いた摘出内境界膜表面の観察
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使用聚焦离子束/扫描电子显微镜组合机观察切除组织内的限制膜表面
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中村 桂一郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
平田憲;村田 和久;都合 亜記暢;中村 桂一郎
