P.J.King. A.Kirk, R.M.Bowley, K.Benedict, L.S.Lees, Y.Hioki, S.Iwama, C.M.Pegrum and R.M.Bowman: "The scaling of the current voltage characteristics of epitaxial Tc thin films" Solid State Communications. 83. 55-58 (1992)
P.J.King. A.Kirk, R.M.Bowley, K.Benedict, L.S.Lees, Y.Hioki, S.Iwama, C.M.Pegrum and R.M.Bowman: "The scaling of the current voltage characteristics of epitaxial Tc thin films" Solid State Communications. 83. 55-58 (1992)
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P.J.金.
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