摩擦力顕微鏡用二軸独立検出型マイクロ・メカニカルプローブの高精度化
摩擦力顕微鏡用二軸独立検出型マイクロ・メカニカルプローブの高精度化
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高精度摩擦力显微镜双轴独立检测型微机械探针
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
張賀東
中科院分区：
文献类型：
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作者：
福澤健二;雨川洋章;辻弘明;式田光宏;伊藤伸太郎;張賀東
