High-Performance Method for Analyzing Shielding Current Density in High-Temperature Superconducting Film with Cracks
High-Performance Method for Analyzing Shielding Current Density in High-Temperature Superconducting Film with Cracks
复制标题
分析带裂纹高温超导薄膜屏蔽电流密度的高性能方法
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高山彰優
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Kamitani;T. Takayama;S. I kuno and H. Nakamura;高山彰優
