On-chip heating effects in electronic measurements at cryogenic temperatures
On-chip heating effects in electronic measurements at cryogenic temperatures
复制标题
低温电子测量中的片上热效应
DOI：
10.1016/j.cryogenics.2022.103536
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
2.1
通讯作者：
Singh, Meenakshi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Blagg, Kirsten;Castagnède, Antoine;Singh, Meenakshi
