K.Tsubouchi,K.Masu,M.Tanaka,Y.Hiura,T.Ohmi,N.Mikoshiba,S.Hayashi,T.Marui,A.Teramoto,T.Kajikawa and H.Soejima: ""Development of Scanning μ-RHEED microscopy for Imaging Polycrystal Grain Structure in LSI"" Jpn.J.Appl.Phys.28. L2075-L2077 (1989)
K.Tsubouchi,K.Masu,M.Tanaka,Y.Hiura,T.Ohmi,N.Mikoshiba,S.Hayashi,T.Marui,A.Teramoto,T.Kajikawa and H.Soejima: ""Development of Scanning μ-RHEED microscopy for Imaging Polycrystal Grain Structure in LSI"" Jpn.J.Appl.Phys.28. L2075-L2077 (1989)
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K.Tsubouchi、K.Masu、M.Tanaka、Y.Hiura、T.Ohmi、N.Mikoshiba、S.Hayashi、T.Marui、A.Teramoto、T.Kajikawa 和 H.Soejima：“扫描μ的发展” -用于 LSI 中多晶晶粒结构成像的 RHEED 显微镜”Jpn.J.Appl.Phys.28 (1989)。
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