ZnO二次元電子系におけるリエントラ整数量子ホール 効果

ZnO二次元電子系におけるリエントラ整数量子ホール 効果
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ZnO二维电子体系中的重入整数量子霍尔效应

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发表时间:
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期刊:
影响因子:
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通讯作者:
Joseph Falson
Joseph Falson
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
金鋼;斉藤真司;宮崎州正;Giulio Biroli;David R. Reichman;後藤和久;Joseph Falson

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