X線タイコグラフィによるナノスケール非破壊解析と次世代放射光への期待
X線タイコグラフィによるナノスケール非破壊解析と次世代放射光への期待
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使用 X 射线叠层成像技术进行纳米级无损分析以及对下一代同步加速器辐射的期望
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高橋幸生
中科院分区：
文献类型：
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作者：
KIKUCHI Shoichi;NAKAI Yoshikazu;高橋幸生
