INFLUENCE OF INSULATION GEOMETRY ON THE CURRENT AT MICRODISK ELECTRODES
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DOI：
10.1016/s0022-0728(84)80112-6
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发表时间：
1984-01-01
影响因子：
4.5
通讯作者：
SZABO, A
中科院分区：
文献类型：
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作者：
SHOUP, D;SZABO, A
