Surface Characterization and Defect Detection by Analysis of Images Obtained with Coherent Light
Surface Characterization and Defect Detection by Analysis of Images Obtained with Coherent Light
复制标题
通过分析相干光获得的图像进行表面表征和缺陷检测
DOI：
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发表时间：
1991
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
F. Parizzi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. Lonardo;A. Bruzzone;C. Gambaro;F. Parizzi
