A software tool for automatic analysis of selected area diffraction patterns within Digital Micrograph™.
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DOI：
10.1016/j.ultramic.2011.09.013
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
C. H. Wu;W. Reynolds;M. Murayama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. H. Wu;W. Reynolds;M. Murayama
