A.Shimizu: "Electrical and Structural Characterization of Cu(InGa)Se_2 Thin Film Using Electrochemical Capacitance-Voltage Method and Focused-Ion Beam Process"Jpn.J.Appl.Phys.. 39・1. 109-113 (2000)
A.Shimizu: "Electrical and Structural Characterization of Cu(InGa)Se_2 Thin Film Using Electrochemical Capacitance-Voltage Method and Focused-Ion Beam Process"Jpn.J.Appl.Phys.. 39・1. 109-113 (2000)
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A.Shimizu：“使用电化学电容电压法和聚焦离子束工艺对 Cu(InGa)Se_2 薄膜进行电学和结构表征”Jpn.J.Appl.Phys. 39・1 (2000)。
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