Si ドープp 型GaAsSb 層のホール効果測定
Si ドープp 型GaAsSb 層のホール効果測定
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Si掺杂p型GaAsSb层的霍尔效应测量
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
和泉志男，横山春喜，杉田有哉
中科院分区：
文献类型：
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作者：
杉田 有哉;田中 滉士;和泉 志男;横山 春喜;鈴木裕史,水戸部大地;和泉志男，横山春喜，杉田有哉
