A Fault Diagnosis Method for a Single Universal Logical Fault Model Using Multi Cycle CaptureTest Sets
A Fault Diagnosis Method for a Single Universal Logical Fault Model Using Multi Cycle CaptureTest Sets
复制标题
一种基于多周期捕获测试装置的单一通用逻辑故障模型的故障诊断方法
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Koji Yamazaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hideyuki Takano;Hiroshi Yamazaki;Toshinori Hosokawa;Koji Yamazaki
