New correction method for CTI and charge trail of the Soft X-ray Imager onboard ASTRO-H
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ASTRO-H 上软 X 射线成像仪的 CTI 和电荷轨迹的新校正方法
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kumiko K. Nobukawa et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
日比輝正;一本嶋佐理;根本知己;上羽貴大;酒井雅史・野間純平;Kumiko K. Nobukawa et al.
