Electronic Structures under High - k Device Operation: XPS Study
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高 k 器件操作下的电子结构：XPS 研究
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Yamashita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
松下泰裕;吉田実;K. Yamakawa;Takanori Nomura;Y. Yamashita
