マイクロアレイデータをもとにした金属イオンストレス応答を担う転写制御配列の予測

マイクロアレイデータをもとにした金属イオンストレス応答を担う転写制御配列の予測
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基于微阵列数据预测负责金属离子应激反应的转录控制序列

DOI:
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发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
山本義治
山本義治
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
趙成日;時澤睦朋;澤木宣忠;小林安文;小林佑理子;小山博之;吉岡洋平;百町満朗;山本義治

文献摘要

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