A test model of capacitance prediction for binding scFv and antigen

A test model of capacitance prediction for binding scFv and antigen
复制标题

scFv与抗原结合的电容预测测试模型

DOI:
--
复制
发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Vijay K. Jain
Vijay K. Jain
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Ryoko Hayashi;Vijay K. Jain

文献摘要

相似文献