Motohiro Iwami: "Soft X-Ray Emission Spectroscopy : Valence Band Electronic Structures of Silicides and Nondestructive Depth Profiling,Metal-Semiconductor Interfaces" Ohmsha, 157-169 (1995)
Motohiro Iwami: "Soft X-Ray Emission Spectroscopy : Valence Band Electronic Structures of Silicides and Nondestructive Depth Profiling,Metal-Semiconductor Interfaces" Ohmsha, 157-169 (1995)
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Motohiro Iwami：“软 X 射线发射光谱：硅化物的价带电子结构和无损深度分析，金属-半导体界面” Ohmsha，157-169 (1995)
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