High field X-ray diffraction studies on Gd_5(Ge<2-x>Fe_x)Si_2 (x=0.05 and 0.2)
High field X-ray diffraction studies on Gd_5(Ge<2-x>Fe_x)Si_2 (x=0.05 and 0.2)
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Gd_5(Ge<2-x>Fe_x)Si_2 (x=0.05和0.2)的高场X射线衍射研究
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J.L. Her
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Koyama;T.Kanomata;T.Watanabe;T.Suzuki;H.Nishihara;K.Watanabe;K. Koyama;J.L. Her
