High-Resolution Transmission Electron Microscopy With Zach Phase Plate

High-Resolution Transmission Electron Microscopy With Zach Phase Plate
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采用 Zach 相位板的高分辨率透射电子显微镜

DOI:
10.1017/s1431927615008685
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发表时间:
2015
影响因子:
2.8
通讯作者:
D. Gerthsen
D. Gerthsen
中科院分区:
工程技术4区
文献类型:
--
作者:
S. Hettler;M. Dries;T. Schulze;M. Oster;C. Wacker;R. R. Schröder;D. Gerthsen

文献摘要

参考文献

相似文献

DOI: --
发表时间: 2010
影响因子: 2.8
作者:
K. Schultheiss;J. Zach;B. Gamm;Manuel Dries;N. Frindt;R. Schröder;D. Gerthsen
通讯作者: D. Gerthsen
DOI: 10.1017/s1431927613013901
发表时间: 2014-02-01
影响因子: 2.8
作者:
Frindt, Nicole;Oster, Marco;Schroeder, Rasmus R.
通讯作者: Schroeder, Rasmus R.