Investigation of spin lifetime in strained InxGa1-xAs channels through all-electrical spin injection and detection
Investigation of spin lifetime in strained InxGa1-xAs channels through all-electrical spin injection and detection
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通过全电自旋注入和检测研究应变 InxGa1-xAs 通道中的自旋寿命
DOI：
10.7567/apex.8.093001
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and T. Uemura,
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Akiho;M. Yamamoto;and T. Uemura,
