Electron-Capture Decay Rate of 7^Be Encapsulated in C_60 Cages
Electron-Capture Decay Rate of 7^Be Encapsulated in C_60 Cages
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封装在 C_60 笼中的 7^Be 电子捕获衰变率
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Ohtsuki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T;Ohtsuki;Jun Onoe;Erm Kikuch;Y.Kodama;H. Suzuki;T. Ohtsuki
