M.Yoshita: "Characterization of cleaved GaAs tips for scanning tunneling microscopy" Japanese Journal of Applied Physics. Part 1, 36. 6957-6961 (1997)
M.Yoshita: "Characterization of cleaved GaAs tips for scanning tunneling microscopy" Japanese Journal of Applied Physics. Part 1, 36. 6957-6961 (1997)
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M.Yoshita：“用于扫描隧道显微镜的劈裂砷化镓尖端的表征”日本应用物理学杂志。
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