3D Analysis of scattering losses due to sidewall roughness in microphotonic waveguides: high index-contrast
3D Analysis of scattering losses due to sidewall roughness in microphotonic waveguides: high index-contrast
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微光子波导中侧壁粗糙度引起的散射损失的 3D 分析：高折射率对比度
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Barwicz
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Barwicz
我们对矩形电介质波导中侧壁粗糙度引起的散射损耗进行了 3D 分析，该分析对于任何折射率对比度和场偏振均有效。我们表明，典型的二维分析可能会大大高估散射损失。
We present a 3D analysis of scattering losses due to sidewall roughness in rectangular dielectric waveguides valid for any refractive-index-contrast and field polarization. We show that the typical 2D analyses can substantially over-estimate scattering losses.