集束イオンビーム観察装置付走査型電子顕微鏡を用いた瘢痕およびケロイドの解析
集束イオンビーム観察装置付走査型電子顕微鏡を用いた瘢痕およびケロイドの解析
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使用带有聚焦离子束观察装置的扫描电子显微镜分析疤痕和疤痕疙瘩
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中村 桂一郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
右田 尚;力丸 由起子;中村 桂一郎
