Characterization of laser and laser/thermal annealed semiconducting iron silicide thin films

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DOI：
10.1023/a:1008908317850
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发表时间：
1999-12
期刊：
Journal of Materials Science: Materials in Electronics
影响因子：
--
通讯作者：
A. Datta;S. Kal;S. Basu;M. Nayak;A. Nath
A. Datta;S. Kal;S. Basu;M. Nayak;A. Nath
中科院分区：
其他
文献类型：
--
作者：
A. Datta;S. Kal;S. Basu;M. Nayak;A. Nath

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