Device Non-Ideality Effects and Architecture-Aware Training in RRAM In-Memory Computing Modules
Device Non-Ideality Effects and Architecture-Aware Training in RRAM In-Memory Computing Modules
复制标题
RRAM 内存计算模块中的设备非理想效应和架构感知训练
DOI：
10.1109/iscas51556.2021.9401307
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Lu, Wei D.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wang, Qiwen;Park, Yongmo;Lu, Wei D.
