走査型プローブ顕微鏡を用いたカーボンナノチューブ薄膜トランジスタの評価・解析

走査型プローブ顕微鏡を用いたカーボンナノチューブ薄膜トランジスタの評価・解析
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使用扫描探针显微镜评估和分析碳纳米管薄膜晶体管

DOI:
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发表时间:
2011
期刊:
信学技報(IEICE Technical Report)
影响因子:
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通讯作者:
水谷孝
水谷孝
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
沖川侑揮;大野雄高;岸本茂;水谷孝

文献摘要

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