M.Ichimura, T.Ohashi and E.Arai: "Carrier Profiles in SOI Substrates Measured by Spreading Resistance Method" (in Japanese)"The Report of IEICE. SDM99-3. 15-22 (1999)
M.Ichimura, T.Ohashi and E.Arai: "Carrier Profiles in SOI Substrates Measured by Spreading Resistance Method" (in Japanese)"The Report of IEICE. SDM99-3. 15-22 (1999)
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M.Ichimura、T.Ohashi 和 E.Arai：“通过扩展电阻法测量 SOI 衬底中的载流子分布”（日文）”IEICE 报告. SDM99-3. 15-22 (1999)
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