MOVPE法による大面積CdTe x線・γ線画像検出器に関する研究(VII)、Si基板上の厚膜CdTe層高岨質化の検討
MOVPE法による大面積CdTe x線・γ線画像検出器に関する研究(VII)、Si基板上の厚膜CdTe層高岨質化の検討
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MOVPE法大面积CdTe X射线和γ射线图像探测器研究（七）、Si衬底上CdTe厚层增韧研究
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小川博久;他
